简维廷
中芯国际，副总，品质与可靠性工程

个人简介

简维廷（Wei-Ting Kary Chien），美国加州大学伯克莱分校工业工程所硕士、德州农工大学工业工程所博士，德州农工大学计算机科学研究所、工业工程研究所与惠普公司博士后研究。上海市“千人计划”特聘专家，上海交通大学兼任教授级研究员，IEEE院士（Fellow），IEEE可靠性期刊（Transactions on Reliability）编辑（Associate Editor），国际可靠性与可维护性研讨会（RAMS）编辑。曾任职于英特尔、台机电与意法半导体等企业。目前任职中芯国际集成电路制造有限公司(SMIC)，负责、研究领域包括半导体品质系统与工程、工业安全、卫生、环保管理，芯片可靠性建模、测试、寿命估计，以及可靠性工程系统与最佳化分析。现任职于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司。著有一本英文、一本中文可靠性专业书籍，已发表200余篇论文和60余项国内外专利。