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March 14-16,2018
Shanghai New International Expo Centre

Kary Chien

Kary Chien
VP, Quality and Reliability Engineering, SMIC

Biography

简维廷(Wei-Ting Kary Chien),美国加州大学伯克莱分校工业工程所硕士、德州农工大学工业工程所博士,德州农工大学计算机科学研究所、工业工程研究所与惠普公司博士后研究。上海市“千人计划”特聘专家,上海交通大学兼任教授级研究员,IEEE院士(Fellow),IEEE可靠性期刊(Transactions on Reliability)编辑(Associate Editor),国际可靠性与可维护性研讨会(RAMS)编辑。曾任职于英特尔、台机电与意法半导体等企业。目前任职中芯国际集成电路制造有限公司(SMIC),负责、研究领域包括半导体品质系统与工程、工业安全、卫生、环保管理,芯片可靠性建模、测试、寿命估计,以及可靠性工程系统与最佳化分析。现任职于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司。著有一本英文、一本中文可靠性专业书籍,已发表200余篇论文和60余项国内外专利。